产品介绍产品简介 产地类别 进口 SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪是准确测量小颗粒物理性质的分析工具，如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定；还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 详情介绍 SZ-100 V2 纳米颗粒分析仪 是准确测量小颗粒物理性质的分析工具， 如颗粒粒径、zeta电位的检测，分子量（Mw）以及第二维利系数（A2）的测定； 还可以用于 检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。 SZ-100 V2纳米颗粒分析仪 典型应用包括： 纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液。 产品特点 · 同台仪器可测三种参数 ——粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数 · 宽检测范围，宽浓度范围 —— 样品浓度可达40% · 自动滴定仪 ——可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定 · 软件操作简单功能*，一键测量 · 双光路双角度粒径测量 （90° 和173°） · 采用微量样品池 技术参数 粒径测量原理： 动态光散射法（光子相关光谱法） 粒径测定范围： 0.3nm ～10μm 粒径测量精度： ±2%（NIST 可溯源标准粒子100nm） Zeta 电位测量原理： 激光多普勒电泳法 Zeta 电位测量范围： -500 mV ～ +500 mV 分子量测量原理： Debye plot 分子量测量范围： 1000 ～ 2×107 Da 测量角度： 90° 和173°（可自动或手动选择） 样品量： 12μL ～ 1000μL 上一篇： OEM定制化光谱仪（提供给光谱分析仪器 下一篇： Partica mini LA-350-紧凑型激光粒度仪
